精密清洗後影像專題
精密零件清洗後，內孔怎麼檢查？孔位紀錄與超細內視鏡判讀
清洗後的盲孔、交叉流道和孔底，可以怎麼看？本文說明超細內視鏡的觀察方式，以及如何記下孔位，方便重洗後回到同一處比較。
本篇內容
清洗完成的零件擺在燈下，外表沒有明顯污漬，但工程師最擔心的是看不到的地方：盲孔底部、交叉流道、台階後方，是否還留著異物或積液？
拍完內孔，請一起留下孔號、插入方向和深度。下次重洗或換批檢查時，才能找到同一位置，確認畫面差異來自零件，還是拍攝條件改變。
定義孔位、觀察範圍與判讀目標
- 異常
- 可見異物、積液、水痕、刮傷與化學殘留不是同一件事。
- 入口
- 圖面之外還要確認公差、毛邊、台階、孔深與轉折。
- 成像
- 孔壁距離、景深、照明反射與穩定度共同決定畫面。
- 用途
- 製程初篩、異常定位、重洗追蹤與正式放行需要不同證據。
確認工作距離、照明與表面反光
安全可達需要確認探頭外徑、硬段、路徑摩擦與退出空間；可重複成像則要確認工作距離、照明、金屬反光、鏡頭潔淨度與固定視角。試拍時請同時確認探頭走得完整條路徑，而且目標位置能拍清楚。
03 孔位地圖與複驗
把每一張影像放回正確的位置
先將圖面、清洗流向與過往異常放在同一張孔位圖，標出盲孔、台階、交叉孔與排液死角，再安排固定順序掃描。
例如把入口編為 A1，依固定順序記錄入口、交叉孔與孔底，檔案同時標示批次、孔號及觀察方向。這是紀錄示例，不是固定檢驗標準。探頭按程序清潔後再進入；發現亮斑或暗點時，先確認鏡頭潔淨與反光是否改變，再安排同位置複拍或後續處理。
需要找位置，還是需要潔淨度數據？
| 方法 | 適合回答 | 主要限制 |
|---|---|---|
| 白光外觀 | 開放表面的污漬、積液與刮傷 | 深孔、轉折與透明薄膜可能看不清 |
| 超細內視鏡 | 可達孔道內的可見異物、積液與表面異常 | 受入口、景深、照明、反光與方向限制 |
| UV-A觀察 | 相容條件下的可螢光異常位置 | 並非所有殘留都螢光，也不能判定成分 |
| 粒子／離子／化學分析 | 依核准方法取得數量、成分或符合性 | 未必直接指出異常位於哪個孔壁位置 |
影像最容易被過度解讀的三個地方
解析度數字
能否辨認仍取決於缺陷尺寸、對比、距離、照明與穩定度。
顯示模式
負片、白平衡或放大可輔助觀察，不能據此判定成分。
畫面乾淨
不可達、低對比或小於成像能力的殘留仍可能存在。
影像能指出位置，不能單獨證明化學潔淨
超細內視鏡適合把可見異常連回孔位與製程步驟，但不能直接換算粒子數、離子或化學殘留，也不能把無法抵達的區域寫成已確認乾淨。
若客戶規範要求特定潔淨度，最後仍須採用指定取樣與分析方法，影像則用來支援定位、重洗與原因追蹤。
本文依宇創目前供應的 EHX PRO 配置資料、ISO 16232官方範圍及精密清洗應用原則整理。產品功能以實際型號與報價為準；本文不構成特定客戶的潔淨度放行結論。
常見問題
精密零件內孔檢查常見問題
2.2mm探頭可以直接通過2.2mm孔嗎？
不能只看名義尺寸，還要考慮公差、毛邊、硬段、孔道直線度、摩擦與安全退出空間。
內視影像乾淨，能證明化學潔淨度合格嗎？
不能。影像可定位可見異常，但粒子、離子或化學殘留仍需核准方法判定。
如何讓不同檢查員拍出可比較的畫面？
建立孔位編碼，固定方向、深度、工作距離、照明與拍攝節點，並明確記錄不可見區域。