技術人員手持PDL-II POWERLIGHT以UV-A照射精密金屬零件表面

PDL-II POWERLIGHT · 365 NM UV-A

讓看不見的殘留
先變成找得到的位置

使用365nm UV-A與濾光設計,快速尋找會產生螢光反應的粒子、油脂、示蹤劑及表面殘留,再把複驗集中到真正值得確認的位置。

UV-A可視化是目視初篩,不是所有污染都會螢光,也不能單獨取代正式潔淨驗證。

365 ± 5 nmUV-A標示波長
5 × 5 WUV-A LED配置
300 lm中央白光檢查模式
IP67原廠防護等級

FIT CHECK

適合快速找出可螢光異常
不適合單靠目視完成放行

把它放在正確的品質流程中:先用光源找位置、留下紀錄,再依污染風險與規範決定複驗方法。

01

半導體設備與無塵室

巡查設備表面、治具與零件上的可螢光粒子或殘留,協助Grade cleaning作業初篩。

02

精密零件清洗

在固定條件下比較清洗前後的油脂、示蹤物或可見殘留,快速定位需重洗區域。

03

製藥清潔檢查

在核准的示蹤或清潔驗證程序中輔助目視;正式放行仍依取樣與品質系統。

04

表面與焊接檢查

搭配合適螢光介質或程序尋找表面指示;不可省略材料、顯像及適用標準要求。

PDL-II在精密工件表面顯示螢光殘留位置

CONTROL THE VIEWING CONDITION

同一支燈照同一個樣品
條件不同結果就可能不同

先固定檢查方法,才能讓不同人、不同批次與不同時間的觀察具有可比較性。

  1. 目標污染粒子、油脂、示蹤劑或其他會螢光的物質
  2. 照射條件距離、角度、範圍、掃描速度與環境光
  3. 表面特性材質、粗糙度、反光、背景螢光與孔洞
  4. 判讀基準已知乾淨樣、已知污染樣與可接受指示
  5. 複驗方法擦拭、粒子計數、化學分析或其他核准程序
傳送樣品與檢查目的

FROM FLUORESCENCE TO ACTION

螢光不是結論
而是下一個動作的位置

一套有用的流程,必須把發現、定位、處置與複驗串在一起。

01

快速掃描

用UV-A尋找螢光指示,再以中央白光確認工件位置、表面狀況與背景差異。

02

標記與處置

記錄位置、照射條件和指示型態,決定局部清潔、重洗或進一步取樣。

03

複驗與留證

在相同條件重複檢查,並依品質程序使用適當方法確認是否符合放行要求。

DECISION SPECIFICATIONS

不是只看瓦數
波長、濾光與流程要一起看

高功率能提供照明餘裕;真正可判讀性仍由光譜純度、環境光、距離、樣品反應與觀察方式共同決定。

WHITE LIGHT

位置與表面確認

中央白光可在同一支燈具上確認工件位置、擦痕、表面結構及非螢光可見異常。

白光LED
1 × 5 W
白光輸出
300 lumen
用途
一般/斜射表面觀察
切換
UV-A/白光模式

FIELD DURABILITY

現場使用

硬質陽極處理鋁合金機身、IP67與磁吸充電,對應日常巡檢與潔淨作業。

材質
T6061鋁合金
防護
IP67
原廠重量
約336 g*
電池
Panasonic 18650

* 數值依原廠當期技術文件;不同文件版本可能有小幅差異,正式供貨以隨附規格與報價確認。

查看完整決策規格 展開
原廠清潔分類
Grade 2/Grade 4 cleaning*
原廠引用文件
ASML GSA 07 9410/07 9510*
掉落測試
1.2 m
品質與符合性
ISO 9001程序/CE/RoHS
電池
7.4V 3400mAh可充電電池
操作時間
原廠標示3小時混合使用*
充電
磁吸感應式充電
電氣安全
原廠隨附IEC 60598-2-8報告

* Grade 2/Grade 4為原廠清潔適用分類與引述文件,不應改寫為ISO 16232認證。驗收依據應由客戶品質系統、合約及適用規範決定。

PDL-II POWERLIGHT照出精密工件表面的螢光指示

WHY UCI

不是把燈交給你就結束
是一起定義什麼才算異常

宇創用實際樣品比較UV-A與白光結果,協助固定距離、角度、環境光與判讀基準,並說明哪些污染看得到、哪些仍須另外複驗。

預約PDL-II樣品測試

FAQ

UV-A潔淨檢查
最容易被誤解的問題

把能看見與不能證明的界線先說清楚,才能讓光源真正改善流程。

PDL-II可以證明零件已經完全乾淨嗎?

不能。它能協助看見會在365nm UV-A下產生螢光反應的污染、粒子或示蹤殘留,但不是所有污染都會螢光。正式放行仍依品質程序複驗。

為什麼365nm UV-A還需要濾光片?

濾光片用來抑制可見光雜訊,降低藍紫光對螢光反應的遮蔽,使觀察者更容易辨認真正螢光位置。

原廠Grade 2與Grade 4 cleaning代表什麼?

原廠文件列為適用Grade 2與Grade 4 cleaning,並引述ASML GSA 07 9410與07 9510。實際驗收仍依客戶規範與合約,不能改稱通用ISO認證。

為什麼不同人照會看到不同結果?

距離、角度、環境光、表面反光、觀察方向及暗適應都會影響可見度。應固定條件並使用已知乾淨與污染樣品建立基準。

使用時要注意什麼安全事項?

避免直視UV-A及高強度白光,不要照射眼睛或皮膚;依風險評估使用合適護目鏡和防護措施,並遵循原廠手冊及場所規範。

CONTENT & TECHNICAL REVIEW

內容來源與技術審閱

本頁依PDL-II POWERLIGHT原廠型錄、規格文件、操作手冊及宇創應用資料整理。UV-A適合可螢光污染的目視定位與初篩,不單獨證明所有污染均已去除,也不取代品質系統核准的正式驗收方法。

內容負責
宇創技術應用團隊
審閱重點
光源、濾光、照射條件、判讀界線與UV-A安全
最後審閱
2026年8月25日

TEST THE SAMPLE BEFORE YOU DECIDE

帶著乾淨樣與污染樣來
先建立你自己的判讀基準

提供材質、污染物、清潔流程與驗收要求,我們協助比較UV-A與白光結果,確認PDL-II應放在流程的哪一步。