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SEMICONDUCTOR INSPECTION

半導體設備工業內視鏡檢查

半導體與精密製造現場常有狹小管腔、深孔、流道與設備內部死角,工業內視鏡能在不大幅拆解的情況下先看見問題。

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半導體設備工業內視鏡檢查

半導體與精密製造現場常有狹小管腔、深孔、流道與設備內部死角,工業內視鏡能在不大幅拆解的情況下先看見問題。

適合先確認的現場條件

選擇設備前,建議先確認檢查目的、孔徑或管徑、檢查深度、是否有彎管、現場照明、是否需要拍照錄影,以及後續是否要提供檢查報告。

宇創會依照實際工件或現場照片協助判斷,不只用單一規格套用所有情境,避免買到能進入但不好判讀、能拍攝但不好操作的設備。

判讀與紀錄重點

檢測影像應能說明問題位置、缺陷型態與後續處理方向。若是管道檢查,會特別看堵塞、破損、錯位、滲漏與異物;若是精密設備,則會關注刮傷、殘留、污染與死角。

良好的檢查流程不只追求畫面清楚,也需要讓現場人員能快速定位、保存影像、回報結果,必要時再安排複檢或改善後確認。

宇創可以協助的方式

你可以提供照片、尺寸、檢查距離與目前遇到的問題,我們會先協助縮小規格範圍,再建議適合的工業內視鏡、管道內視鏡或相關檢測設備。

若規格判斷仍不確定,建議安排實機展示或帶工件測試,讓選型建立在實際畫面與操作感受上。

快速判斷表

項目建議確認內容
檢查目的先確認要找異物、堵塞、裂痕、殘留、污染或驗收紀錄。
尺寸條件確認孔徑、管徑、深度、彎管、入口角度與現場可操作空間。
輸出需求確認是否需要拍照、錄影、報告、複檢或與客戶共同判讀。
需要協助判斷規格?
可透過 LINE @uci289、電話 02-8687-4083 或 email uci@uci.com.tw 聯絡宇創,提供照片與尺寸後,我們會協助評估合適設備。

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